产品中心您的位置:网站首页 > 产品中心 > > 超声波显微镜 > GSC300超声扫描显微镜(半导体电子元件缺陷检测)

超声扫描显微镜(半导体电子元件缺陷检测)

简要描述:
超声扫描显微镜(半导体电子元件缺陷检测):满足不同行业需求,集成电路半导体封装缺陷,分层检测,内部结构检测,断层检测。空洞检测,贴片内部焊接检测。

更新时间:2022-09-01

访问量:78

厂商性质:代理商

生产地址:浙江

品牌其他品牌产地类别国产
应用领域综合

超声扫描显微镜(半导体电子元件缺陷检测): 

GSC300超声扫描显微镜应用:
一 、IC塑料封装:集成电路行业检测
1.自动识别封装缺陷
2.封装分层检测
3.封装内部结构、断层检测
二 、功率电子器件塑料封装
1.分层,空洞检测
2.封装分层检测
三 、功率电子装片、粘片、连续炉焊
1 焊接空洞 压片翘片、面包片、硅片裂纹
2.粘片质量检测
3.热沉焊接质量检测
四 、金刚石材料缺陷检测
五 、熔断器焊接点检测
铜箔与黄铜的点焊
六 、复合材料内部气孔断层检测
GSC300.jpg

主要配置:
1、龙门式高速直线电机扫描运动台;
2、主动平衡减震系统;
3、整体焊接框架,提高稳定性;
4、全封闭防护;
5、万能夹具、一键校准、远程协助;
6、自动上下水及水循环净化系统。
 
超声扫描显微镜(半导体电子元件缺陷检测)应用领域
精密器件 ——半导体、集成电路和金刚石等行业高速全检,适用于理化试验室或车间现场。

产品参数
1、工作电源:220V/50Hz,3KW;
2、最大扫描范围: 500mm×330mm×100mm;图像推荐分辨率:0.5um ~ 4000um;
3、整机尺寸:1000mm×850mm×1000mm;(标配)
4、探头频率范围:1~50MHz;(标配,可升级至230MHz);
5、图像推荐分辨率:0.5um ~ 4000um;
6、典型扫描耗时:≤30s (测试条件:扫描区域10mmX10mm,分辨率50um);
7、最大扫描速度:1000mm/s;最大扫描加速度:8m/s²;
8、运动台定位精度:X/Y向<±1um,Z向<±10um;重复定位精度:X/Y向<±0.01mm,Z向<±0.02mm。
9、采样频率:25~250MHz;(标配,可升级至1.5GHz);
10、每通道可调增益:-13~66dB;(标配,可升级);脉冲重复频率:5kHz;(标配,可升级)。

可满足低压电器焊接质量检测、金刚石缺陷和厚度测量、水冷板散热器检测、半导体封测等行业需求。



留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

联系我们

contact us

咨询电话

13566392451

扫一扫,关注我们

返回顶部