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金相显微镜CX40M用于IC芯片爆破粒子新材料分析,具有拍照截图、测量和多边形测量等功能,可输出报告到EXCEL和TXT。优异的成像性能和操作体验,提供高性价比的金相分析及工业检测解决方案。具有多种观察筒和目镜选择,适应不同需求。物镜转换器、调焦机构和载物台等设计优化,提高操作效率和精度。
激光共聚焦显微镜:具有zhou越图像质量和简单易用性,可用于细胞内生化成分的定量分析和形态测量。其高分辨率和精确分析使其成为形态学、生理学、免疫学和遗传学等领域的理想工具。强大的软件功能支持多色荧光共聚焦成像和多种成像模式,提供灵活的数据处理和分析选项。
超声扫描显微镜 YTS-500:在工作中采用反射或者透射等扫描方式来检查元器件、材料、晶圆等样品内部的分层、空洞、裂缝等缺陷。
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